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耐壓測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)測(cè)試

耐壓測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)測(cè)試
耐壓測(cè)試儀耐壓測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)測(cè)試，由一個(gè)電壓較高的電壓為橫跨的厚度在特定時(shí)間測(cè)試樣品的介電層。這是用來(lái)證明板可在其額定電壓**運(yùn)行和承受由于開關(guān)瞬間電壓尖峰，浪涌，和其他類似的現(xiàn)象。

雖然此測(cè)試是類似的電壓擊穿測(cè)試，它不用于本試驗(yàn)引起胰島素 - 相關(guān)特征研擊穿。相反，耐壓測(cè)試儀用于確定試樣底層是否具有足夠的耐壓。其結(jié)果可能是指示從一個(gè)變化或偏差的從制造工藝，該試驗(yàn)是對(duì)有用性驗(yàn)收和的適用性的確定材料對(duì)于給定的應(yīng)用。

耐壓測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)測(cè)試，相鄰頂部之間的間距成像箔導(dǎo)體時(shí)，建議≥ 100次電介質(zhì)的厚度。為了避免磁場(chǎng)梯度和機(jī)械應(yīng)力集中，這可能會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的介電擊穿，底部箔可是另一個(gè)較大的圓比頂部成像箔，或者可是一個(gè)連續(xù)的銅片。連續(xù)的銅片將需要對(duì)于非常薄的電容器電介質(zhì)層是不自支持。至少有五個(gè)試樣應(yīng)進(jìn)行測(cè)試資格。

耐壓測(cè)試儀像電容器材料，試樣的**成像箔可是一個(gè)大小小于直徑50 mm其他圓，如果這個(gè)尺寸是不實(shí)際的或典型。測(cè)試樣品可是與用于鑒定試驗(yàn)，或者可是其它尺寸或形狀。為了測(cè)試在PCB設(shè)計(jì)環(huán)境，實(shí)際的內(nèi)層電源和地平面都可使用。請(qǐng)注意，耐壓測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)測(cè)試時(shí)，需要電容器極板尺寸調(diào)整熱度。

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