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數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理及介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

      數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理及介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo):
　　 數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理:
   　數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路被試回路，如圖3所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀被試回路由被試品和采樣電路組成。由8031單片機(jī)運(yùn)用計(jì)算機(jī)數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,對(duì)數(shù)以萬計(jì)的采樣數(shù)據(jù)處理后進(jìn)行矢量運(yùn)算，分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ)，測(cè)量結(jié)果可靠。數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)有干擾時(shí)，先利用移相、倒相法減小干擾的影響，再將被試回路測(cè)得的電流Ix′與單獨(dú)測(cè)得的干擾電流Id矢量相加，得到真正的測(cè)量電流Ix，進(jìn)而得出正確的測(cè)量結(jié)果。數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀可根據(jù)不同的測(cè)量對(duì)象和測(cè)量需要，靈活地采用多種接線方式。如測(cè)量非接地試品（正接法）時(shí)，“LV”（E）點(diǎn)接地；而測(cè)量接地試品（反接法）時(shí)，則“HV”點(diǎn)接地。
   數(shù)字抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)
　　1、額定工作條件
　　2、環(huán)境溫度:0～40℃(當(dāng)溫度超出20℃±5℃時(shí),每變化10℃儀器基本誤差的改變量不超過基本誤差限的1/2。)
　　3、相對(duì)濕度:30%～85%
　　4、供電電源:電壓:220V±22V,頻率: 50±1Hz
　　5、外形尺寸:l×b×h,mm:440×330×400
　 6、重量:不大于23kg
　　7、電子電路功耗:不大于40VA
　　8、測(cè)量范圍:介質(zhì)損耗(tgδ):0～1 分辨率0.0001電容量(Cx): *小分辨率0.01pF內(nèi)接方式
　　9、試驗(yàn)電壓試品電容量5kV 7.5kV 10kV3pF～40000PF1.5kV          2.25kV 3k 10pF～0.35μF 0.5kV 0.75kV 1kV 30pF～1.5μF 　
　10、外接方式“外接升壓器”方式*高試驗(yàn)電壓10kV“外接Cn”方式（外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器）*高試驗(yàn)電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定(Umax=Imax/ωC)
　11、基本測(cè)量誤差產(chǎn)品在環(huán)境溫度20℃±5℃、相對(duì)濕度30%～85%的條件下，應(yīng)符合表1之規(guī)定。
　 12、內(nèi)部升壓器輸出能力輸出電壓額定輸出電流5kV 7.5kV 10kV 100mA1.5kV 2.25kV 3kV300mA 0.5kV 0.75kV 1kV 500m

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